摘要：介绍了以光时域反射仪（OTDR）为代表的光学链路连续分布参数的的反射式测量技术。在阐明OTDR基本测量原理和实现方式的基础上，着重讨论了时域相关测量，频域测量和干涉测量技术各自的特点及对测量精度的改进。
关键词：光时域反射仪，光频域反射仪，相关探测，干涉探测
一、概述
光学分布探测是一种适用于光纤等连续光学链路的特征参数测量的技术。反射式分布探测是基于测量光背向散射信号，由光传输特性的变化来探测、定位和测量光纤链路上因熔接、连接器、弯曲等造成的光学性能改变。光时域反射仪OTDR是这种技术的典型应用。OTDR可以测量整个光纤链路的衰减并提供与长度有关的衰减细节,测量具有非破坏性、测量过程快速方便、结果准确直观的特点。因此在生产、研究以及通信等领域有广泛应用。为了提高测量性能，在OTDR的基础上提出了时域相关测量，频域测量和干涉测量等改进的测量技术。
二、OTDR的测量原理[1]
当光束沿光纤传播时，由于纤芯折射率的细微不均匀会不断产生瑞利散射，部分散射光会反向回到输入端。
将激光入射到光纤中，并监测这些反向散射光的强度变化，可以得到沿光纤长度分布的衰减曲线。采用这项技术可以探测光纤中散射系数、损耗及连接点、耦合点、断点等的情况。
测量中的反向散射光有两种，一种是瑞利散射光，另一种是光纤断面或光纤连接处产生的菲涅尔反射。假设入射光功率为P0，光纤中l处反向散射光传播到入射端的功率为Ps,光纤l处的衰减系数为α(l)，则可以得到下列公式：
(1)
由式(1)可以知道一条良好光纤的OTDR测量曲线应该近似一条斜率不变的直线，曲线中的突然变化显示光纤中的引起光传播特性改变的情况，见图2所示。光纤中l1和l2间的平均衰减系数可以由公式（2）得到。
(2)
三、反射探测在精细结构上的应用前景
反射探测既可以应用于光纤的大范围测量，在光路的小尺度范围及光学器件的精细结构测量也可以发挥重要作用。可采用光时域相关探测技术、光频域探测技术及干涉探测技术等改进OTDR的测量精度。
3.1 光时域相关探测技术
OTDR探测的空间精度是指探测链路上可分辨的两个事件点的最短距离，称为空间分辨率。分辨率主要是由探测脉冲的宽度决定。探测分别率的提高可以通过减小探测脉冲宽度达到，但在激光器功率一定的条件下，这会造成探测脉冲能量降低，可探测的背向散射光信号非常微弱。因此提高OTDR的探测灵敏度是进行小尺度探测要解决的关键问题。相关(correlation)探测[2]提供了一种在不降低空间分辨率的情况下提高反向散射光信噪比（SNR）的方法。互补Golay码[3]具有独特的自相关特性，用互补码作为激励脉冲序列，通过相关运算可以有效抑制噪声，提高探测灵敏度。
互补码的定义是：两个L元序列的自相关和若对于任意非零移位都为零，则这两个序列是互补的：
(3)
互补码有良好的自相关性质，每个
